電子萬能試(shi)(shi)驗機(ji)的(de)(de)變形(xing)試(shi)(shi)驗是(shi)(shi)(shi)指在(zai)各種的(de)(de)載荷作用下，變體型(xing)的(de)(de)形(xing)狀、位置、尺寸等在(zai)時間(jian)或者空間(jian)上發(fa)生的(de)(de)變化(hua)，而變形(xing)監測(ce)又可以叫做變形(xing)測(ce)量(liang)(liang)(liang)或者變形(xing)觀測(ce)。主要是(shi)(shi)(shi)對設置在(zai)變形(xing)提上的(de)(de)觀測(ce)點(dian)進行(xing)周期性的(de)(de)反復(fu)觀測(ce)，從而獲得(de)觀測(ce)點(dian)或是(shi)(shi)(shi)高程階段(duan)的(de)(de)變化(hua)。試(shi)(shi)驗機(ji)的(de)(de)變形(xing)測(ce)量(liang)(liang)(liang)是(shi)(shi)(shi)試(shi)(shi)驗機(ji)測(ce)控系(xi)統比較重(zhong)要的(de)(de)組成部分，是(shi)(shi)(shi)試(shi)(shi)驗機(ji)關(guan)鍵(jian)技術(shu)環節。選用可靠(kao)性高，穩定性強(qiang)的(de)(de)變形(xing)測(ce)量(liang)(liang)(liang)儀器是(shi)(shi)(shi)值(zhi)得(de)用戶考慮的(de)(de)因(yin)素之一。

DL伺服控制電子萬能試驗機

　　一、變形試驗要點

　　1.變形(xing)測(ce)(ce)量(liang)技(ji)術參(can)數:變形(xing)測(ce)(ce)量(liang)指標的參(can)數包括測(ce)(ce)量(liang)范圍、示值誤差、靈敏度和分辨率；

　　2.測(ce)量(liang)范(fan)圍-試驗機(ji)通過測(ce)量(liang)系統測(ce)量(liang)的小尺寸材料(liao)或部(bu)件之間的范(fan)圍；

　　3.指示(shi)(shi)誤差(cha)——樣(yang)品(pin)變形值(zhi)(zhi)(zhi)記錄或顯示(shi)(shi)的測量(liang)值(zhi)(zhi)(zhi)與測量(liang)值(zhi)(zhi)(zhi)之差(cha)稱為試(shi)驗機測量(liang)系統(tong)的指示(shi)(shi)誤差(cha)，示(shi)(shi)值(zhi)(zhi)(zhi)誤差(cha)不(bu)可(ke)避免(mian)，其(qi)大小在規定范圍或標準范圍內；

　　4.試驗(yan)機(ji)的(de)(de)變形測(ce)(ce)量(liang)靈(ling)敏度(du)-靈(ling)敏度(du)指示(shi)器相對于測(ce)(ce)量(liang)變化的(de)(de)位移率，靈(ling)敏度(du)是測(ce)(ce)量(liang)物(wu)理儀器的(de)(de)標志，測(ce)(ce)量(liang)系統(tong)的(de)(de)靈(ling)敏度(du)越高，測(ce)(ce)量(liang)結果的(de)(de)準(zhun)確度(du)越高。

　　二、變形測量技術參數：

　　變(bian)形(xing)測量(liang)(liang)指標(biao)參(can)數有(you)測量(liang)(liang)范圍，示值誤(wu)差，靈(ling)敏度，分辨率(lv)。

　　測(ce)量范圍——試(shi)驗(yan)機通過測(ce)量系(xi)統所(suo)能(neng)夠測(ce)量到(dao)的材料或構件的zui小尺寸與zui大尺寸之(zhi)間的范圍。

　　示(shi)值(zhi)(zhi)誤(wu)差——試樣(yang)變形值(zhi)(zhi)的(de)(de)記錄或(huo)顯示(shi)的(de)(de)測(ce)量(liang)(liang)值(zhi)(zhi)與被(bei)測(ce)量(liang)(liang)值(zhi)(zhi)的(de)(de)實際數值(zhi)(zhi)之差，稱為試驗機測(ce)量(liang)(liang)系統的(de)(de)示(shi)值(zhi)(zhi)誤(wu)差。示(shi)值(zhi)(zhi)誤(wu)差是不可避免的(de)(de)，其(qi)大(da)小在特(te)定的(de)(de)范圍內或(huo)者標準(zhun)規(gui)定范圍。

　　試(shi)驗機(ji)變(bian)形(xing)測(ce)(ce)量(liang)(liang)靈敏度(du)——靈敏度(du)指示器(qi)的相對于被測(ce)(ce)量(liang)(liang)變(bian)化的位(wei)移率，靈敏度(du)是衡量(liang)(liang)物理(li)儀(yi)器(qi)的一(yi)個標志，試(shi)驗機(ji)測(ce)(ce)量(liang)(liang)系統靈敏度(du)越精細(xi)，則測(ce)(ce)量(liang)(liang)結(jie)果(guo)精度(du)越高。

　　試驗機(ji)變形測(ce)量(liang)的分辨(bian)率是指(zhi)試驗機(ji)光電(dian)編碼器測(ce)量(liang)數據的可測(ce)量(liang)的zui小精度。分辨(bian)率越(yue)大，測(ce)量(liang)結果越(yue)精確(que)。

　　三、變形測量工作原理：

　　應變(bian)(bian)式(shi)(shi)引(yin)(yin)(yin)伸計是由彈性元件(jian)和(he)粘貼(tie)(tie)在(zai)(zai)它上(shang)的(de)(de)應變(bian)(bian)片(pian)組成的(de)(de)，當引(yin)(yin)(yin)伸計移動臂受力時，引(yin)(yin)(yin)起彈性體(ti)變(bian)(bian)形并(bing)使(shi)粘貼(tie)(tie)在(zai)(zai)它上(shang)面的(de)(de)應變(bian)(bian)片(pian)電(dian)阻值發(fa)生變(bian)(bian)化，原來平衡的(de)(de)電(dian)橋失去平衡輸出一個(ge)正比于(yu)(yu)變(bian)(bian)形的(de)(de)電(dian)壓信號輸出，由于(yu)(yu)引(yin)(yin)(yin)伸計輸出的(de)(de)電(dian)信號極其微弱(ruo)，必(bi)須經放大后(hou)才能達到要求的(de)(de)值，這個(ge)工(gong)作由完全由A/D轉(zhuan)換器(qi)放大和(he)轉(zhuan)換，然后(hou)送到單片(pian)計算(suan)機進行處理，以直讀的(de)(de)方(fang)式(shi)(shi)進行顯示，同(tong)時通過RS232傳(chuan)輸到計算(suan)機，進行數(shu)據(ju)處理。

　　關于(yu)電子萬(wan)能試驗(yan)機(ji)的(de)變(bian)(bian)形(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)測(ce)(ce)量水平和精度取(qu)決于(yu)允(yun)許(xu)變(bian)(bian)形(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)值(zhi)和變(bian)(bian)形(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)測(ce)(ce)量目的(de)，如果觀測(ce)(ce)的(de)目的(de)是(shi)使(shi)變(bian)(bian)形(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)值(zhi)不超過一(yi)定的(de)允(yun)許(xu)值(zhi)以保證(zheng)建(jian)筑物的(de)安全(quan)，則觀測(ce)(ce)中的(de)誤差不應小于(yu)允(yun)許(xu)變(bian)(bian)形(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)值(zhi)的(de)1/10~1/20，如果觀測(ce)(ce)的(de)目的(de)是(shi)研究變(bian)(bian)形(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)過程，那么觀測(ce)(ce)精度應該(gai)更高。另外變(bian)(bian)形(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)測(ce)(ce)量是(shi)用試驗(yan)機(ji)監測(ce)(ce)變(bian)(bian)形(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)體的(de)變(bian)(bian)化，該(gai)方(fang)法目的(de)是(shi)獲(huo)取(qu)變(bian)(bian)形(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)體空間位置隨(sui)時間變(bian)(bian)化的(de)特(te)征，并根據結果調整相應的(de)結果。